紅外干貨- OMNIC數(shù)據(jù)處理之再處理

匹配分辨率

若將一種樣品的譜圖與其它低分辨率下測得的樣品譜圖相比較，可將此樣品譜圖再處理成需要比較的分辨率下的譜圖。

匹配切趾

由于切趾影響譜圖的視覺分辨率，“切趾函數(shù)"的選擇可以讓它們的切趾函數(shù)類型相匹配，這樣就可以在同一基礎(chǔ)上對比譜圖了。

匹配填零

填零和分辨率共同決定了數(shù)據(jù)間隔，填充零可以在采集的數(shù)據(jù)點之間添加數(shù)據(jù)點來改善譜線的形狀。使用填充零時，譜線尖銳部位變得更平滑，更象典型的譜峰，選擇1級是在每個數(shù)據(jù)點之間添加一個數(shù)據(jù)點，選擇2級是在每個數(shù)據(jù)點之間添加三個數(shù)據(jù)點，可以使譜帶形狀更好。

改變格式

可利用“丫軸格式"改變譜圖的格式，使它們具有相同的Y軸單位。

改變校正類型

譜圖修正可以進行 Kramers-Kronig 校正，將鏡反射附件采集的譜圖縱坐標轉(zhuǎn)換成吸光度時使用;ATR校正，ATR附件采集的譜圖需要和透射法采集的譜圖進行比較時使用，還可以減少水和二氧化碳干擾。

改變譜圖范圍

比如所存儲譜圖數(shù)據(jù)的范圍是8000到400cm-1，但后來發(fā)現(xiàn)只有1800-700 cm-1范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)是有用的，或者是發(fā)現(xiàn)由于使用太小的區(qū)域存儲數(shù)據(jù)導(dǎo)致丟失了有用數(shù)據(jù)，也可以通過在更大的存儲區(qū)域內(nèi)再處理數(shù)據(jù)而得到彌補，點擊“譜圖存儲范圍"進行更改即可。

替換背景譜圖

點擊“背景譜圖文件"下方的“瀏覽",打開新背景光譜,就可以替換原來譜圖的背景譜圖。

還可以還原譜圖的初始數(shù)據(jù)，恢復(fù)任何空白的譜圖區(qū)域或被直線代替的區(qū)域。選中需要處理的光譜打開“再處理",點擊“確定"即可。

但是得注意!

采集的譜圖如需進行再處理，前提條件是譜圖的原始數(shù)據(jù)已保存，否則無法進行再處理，在采集譜圖的時候，點擊“實驗設(shè)置"，點擊“采集"將文件處理右下方“保存干涉圖"勾選上采集好的譜圖后續(xù)即可進行再處理。