島津掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800型

島津掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800型

自主研發(fā)創(chuàng)造250μm微區(qū)分布成像分析功能！

XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在世界上開發(fā)出微區(qū)分析/分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射線管，擴大了X射線熒光分析的應用領域，作為具有開創(chuàng)性的儀器而得到了很高評價，業(yè)已銷售200余臺。

掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型從儀器的硬件與軟件在許多細節(jié)都進行了改進，使得儀器的可靠性與可操作性更進一步提高，增加了在行業(yè)內(nèi)優(yōu)先自主研發(fā)創(chuàng)造的250μm微區(qū)分布成像分析功能，從而達到更高的水平的完善程度。作為高靈敏度和微區(qū)分析，島津公司非常自信地向用戶奉獻出優(yōu)異的XRF-1800型X射線熒光光譜儀。

· 在波長色散型裝置中，自主研發(fā)創(chuàng)造的250μm微區(qū)分布成像分析功能

  可分析不均勻樣品的含量分布、強度分布。

稀土元素礦石的XRF-1800成像分析實例

· 利用高次譜線進行準確的定性/定量分析

高次譜線的判定更加準確，提高了定性定量分析的準確度/可靠性。

利用XRF-1800的高次譜線分析剎車片實例

· 測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(shù)(BG-FP)法

  利用康普頓散射/瑞利散射的強度比計算出熒光X射線分析不能得到的氫（H）元 素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜 的信息。

使用XRF-1800進行的膜厚測定、薄膜測定實例

島津掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800型

· 微區(qū)分析結構

   獨自開發(fā)的特殊形狀的滑動式視野限制光欄，利用r方向滑動與樣品旋轉(zhuǎn)控制的q轉(zhuǎn)動，可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進行分析。

· 利用CCD相機可以直接觀察樣品（選配件）

   在測定室導入樣品的位置上，將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置，通過CCD攝取樣品的圖像，可使測定位置與圖像相吻合。

· 配備高可靠性、長壽命的4kW薄窗Ｘ射線管

   配備平均壽命在5年以上的高可靠性Ｘ射線管。與傳統(tǒng)的3kWＸ射線管相比，輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。

· 集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能

   對應于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應的分析條件，在這基礎上可編制更佳的分析條件。可根據(jù)不同材質(zhì)。

   判定、品種分類、品種判定、一致性檢索這4種匹配功能進行判定、檢索。